Large Language Models for Test-Free Fault Localization
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논문 정보
- 제목: Large Language Models for Test-Free Fault Localization
- 저자: Aidan Z.H. Yang, Ruben Martins, Claire Le Goues, Vincent J. Hellendoorn (Carnegie Mellon University)
- 학회/저널: 2024 IEEE/ACM 46th International Conference on Software Engineering (ICSE '24)
- 발행일: 2024-04-14
- DOI: https://doi.org/10.1145/3597503.3623342
- 주요 연구 내용: 기존 결함 위치 탐지(Fault Localization) 기술들이 테스트 커버리지에 의존하는 한계를 극복하기 위해, 대규모 언어 모델(LLM)과 양방향 어댑터(Bidirectional Adapter)를 결합한 테스트 프리(Test-Free) 방식인 LLMAO를 제안한다.
- 주요 결과 및 결론: Defects4J 벤치마크에서 기존의 최신 머신러닝 기반 결함 탐지(MLFL) 기술들보다 Top-1 정확도는 2.3%~54.4%, Top-5 정확도는 14.4%~35.6% 향상된 성능을 보였으며, 모델 크기가 커질수록 성능이 비례하여 증가함을 확인했다.
- 기여점: 테스트 케이스 없이 소스 코드의 자연어적 특성만을 학습하여 결함을 탐지하는 최초의 LLM 기반 접근법을 제시했으며, 기능적 버그뿐만 아니라 보안 취약점 탐지까지 일반화 가능함을 입증했다.