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배치 테스팅 - 여러 테스트 케이스를 일괄적으로 실행하여 효율성을 높이는 테스팅 방법

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Identifying Bug Inducing Commits by Combining Fault Localisation and Code Change Histories

· 7 min read
Gabin An
Jinsu Choi
Jingun Hong
Naryeong Kim
Shin Yoo

논문 정보

  • 제목: Identifying Bug Inducing Commits by Combining Fault Localisation and Code Change Histories
  • 저자: Gabin An (KAIST), Jinsu Choi (KAIST), Jingun Hong (SAP Labs Korea), Naryeong Kim (KAIST), Shin Yoo (KAIST)
  • 학회/저널: arXiv (Extended version of ICSE 2023 paper)
  • 발행일: 2025-02-19 (v2)
  • DOI: 10.1109/ICSE48619.2023.00059 (Original ICSE 2023 paper)
  • 주요 연구 내용: 코드 요소의 결함 의심 점수(Fault Localisation)와 코드 변경 이력(Version Control)을 결합하여 버그 유발 커밋(BIC)의 가능성을 정량화하는 'FONTE' 기법 제안. FONTE는 3단계(필터링, 의미 보존 커밋 제거, 점수화)를 통해 BIC 탐색 공간을 줄이고 순위를 매김.
  • 주요 결과 및 결론: 206개 실제 BIC 대상 평가 결과, FONTE는 기존 IR 기반 BIC 식별 기법 대비 최대 45.8% 높은 MRR을 달성. 또한 FONTE 점수를 활용한 '가중 이진 탐색(Weighted Bisection)'은 표준 이진 탐색 대비 탐색 반복 횟수를 98%의 사례에서 감소시킴.
  • 기여점: 버그 리포트나 버그 수정 커밋(BFC) 없이, 테스트 실패 정보(커버리지)와 커밋 이력만으로 BIC를 식별하는 효율적이고 유연한 비지도 방식 제안. 대규모 산업 프로젝트(SAP HANA)의 배치 테스팅 실패 시나리오에 적용하여 실용성 입증.