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Repairing Order-Dependent Flaky Tests via Test Generation

· 약 7분
Chengpeng Li
Chenguang Zhu
Wenxi Wang
August Shi

논문 정보

  • 제목: Repairing Order-Dependent Flaky Tests via Test Generation
  • 저자: Chengpeng Li, Chenguang Zhu, Wenxi Wang, and August Shi (The University of Texas at Austin)
  • 학회/저널: 2022 IEEE/ACM 44th International Conference on Software Engineering (ICSE)
  • 발행일: 2022-05-21
  • DOI: https://doi.org/10.1145/3510003.3510173
  • 주요 연구 내용: 순서 의존적(order-dependent) 결함 테스트 복구를 위한 자동화 기법 ODRepair 제안. 이 기법은 먼저 테스트 실패를 유발하는 오염된 공유 상태(polluted shared state)를 식별하고, 이후 자동화된 테스트 생성 도구(Randoop)를 활용하여 해당 상태를 리셋(reset)하는 '클리너(cleaner)' 코드(메서드 호출 시퀀스)를 생성함.
  • 주요 결과 및 결론: 327개의 순서 의존적 테스트 대상 평가. ODRepair는 181개 테스트에서 오염된 정적 필드(static field)를 식별했으며, 이 중 141개의 테스트에 대한 패치를 성공적으로 생성함. 기존 SOTA 기법인 iFixFlakies가 복구하지 못하는 24개의 테스트를 ODRepair가 복구함.
  • 기여점:
    1. 기존에 '클리너' 테스트가 없는 경우에도 테스트 생성을 통해 순서 의존적 테스트를 복구하는 새로운 접근법 제시.
    2. 오염된 공유 힙 상태(heap-state), 특히 정적 필드를 자동으로 식별하는 'Debugger' 컴포넌트 개발.
    3. 'Generator' 컴포넌트를 통해 테스트 생성 도구를 가이드하여 리셋 메서드를 호출하고 패치를 생성하는 방법론 구현.