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결함 위치 추적 - 소프트웨어 내 오류가 발생한 정확한 위치를 식별하는 디버깅 기법

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Identifying Bug Inducing Commits by Combining Fault Localisation and Code Change Histories

· 약 7분
Gabin An
Jinsu Choi
Jingun Hong
Naryeong Kim
Shin Yoo

논문 정보

  • 제목: Identifying Bug Inducing Commits by Combining Fault Localisation and Code Change Histories
  • 저자: Gabin An (KAIST), Jinsu Choi (KAIST), Jingun Hong (SAP Labs Korea), Naryeong Kim (KAIST), Shin Yoo (KAIST)
  • 학회/저널: arXiv (Extended version of ICSE 2023 paper)
  • 발행일: 2025-02-19 (v2)
  • DOI: 10.1109/ICSE48619.2023.00059 (Original ICSE 2023 paper)
  • 주요 연구 내용: 코드 요소의 결함 의심 점수(Fault Localisation)와 코드 변경 이력(Version Control)을 결합하여 버그 유발 커밋(BIC)의 가능성을 정량화하는 'FONTE' 기법 제안. FONTE는 3단계(필터링, 의미 보존 커밋 제거, 점수화)를 통해 BIC 탐색 공간을 줄이고 순위를 매김.
  • 주요 결과 및 결론: 206개 실제 BIC 대상 평가 결과, FONTE는 기존 IR 기반 BIC 식별 기법 대비 최대 45.8% 높은 MRR을 달성. 또한 FONTE 점수를 활용한 '가중 이진 탐색(Weighted Bisection)'은 표준 이진 탐색 대비 탐색 반복 횟수를 98%의 사례에서 감소시킴.
  • 기여점: 버그 리포트나 버그 수정 커밋(BFC) 없이, 테스트 실패 정보(커버리지)와 커밋 이력만으로 BIC를 식별하는 효율적이고 유연한 비지도 방식 제안. 대규모 산업 프로젝트(SAP HANA)의 배치 테스팅 실패 시나리오에 적용하여 실용성 입증.

Large Language Models for Test-Free Fault Localization

· 약 5분
Aidan Z.H. Yang
Ruben Martins
Claire Le Goues
Vincent J. Hellendoorn

논문 정보

  • 제목: Large Language Models for Test-Free Fault Localization
  • 저자: Aidan Z.H. Yang, Ruben Martins, Claire Le Goues, Vincent J. Hellendoorn (Carnegie Mellon University)
  • 학회/저널: 2024 IEEE/ACM 46th International Conference on Software Engineering (ICSE '24)
  • 발행일: 2024-04-14
  • DOI: https://doi.org/10.1145/3597503.3623342
  • 주요 연구 내용: 기존 결함 위치 탐지(Fault Localization) 기술들이 테스트 커버리지에 의존하는 한계를 극복하기 위해, 대규모 언어 모델(LLM)과 양방향 어댑터(Bidirectional Adapter)를 결합한 테스트 프리(Test-Free) 방식인 LLMAO를 제안한다.
  • 주요 결과 및 결론: Defects4J 벤치마크에서 기존의 최신 머신러닝 기반 결함 탐지(MLFL) 기술들보다 Top-1 정확도는 2.3%~54.4%, Top-5 정확도는 14.4%~35.6% 향상된 성능을 보였으며, 모델 크기가 커질수록 성능이 비례하여 증가함을 확인했다.
  • 기여점: 테스트 케이스 없이 소스 코드의 자연어적 특성만을 학습하여 결함을 탐지하는 최초의 LLM 기반 접근법을 제시했으며, 기능적 버그뿐만 아니라 보안 취약점 탐지까지 일반화 가능함을 입증했다.

Fault Localization with Code Coverage Representation Learning

· 약 5분
Yi Li
Shaohua Wang
Tien N. Nguyen

논문 정보

  • 제목: Fault Localization with Code Coverage Representation Learning
  • 저자: Yi Li, Shaohua Wang, Tien N. Nguyen (New Jersey Institute of Technology, The University of Texas at Dallas)
  • 학회/저널: arXiv:2103.00270v1 (ICSE 2021 등재 연구 기반)
  • 발행일: 2021-02-27
  • 주요 연구 내용: 결함 위치 추정(FL)을 이미지 패턴 인식 문제로 접근하여, 코드 커버리지 행렬(Code Coverage Matrix)의 테스트 케이스를 시각적 패턴이 드러나도록 재정렬하고, 문장 간 데이터 의존성을 학습하여 CNN으로 결함을 탐지하는 DEEPRL4FL 모델을 제안함.
  • 주요 결과 및 결론: Defects4J 벤치마크에서 기존 최고 성능의 Statement-level FL 모델 대비 Top-1 정확도를 173.1%에서 491.7%까지 향상시켰으며, Method-level에서도 기존 기법들을 크게 상회하는 성능을 입증함.
  • 기여점: 단순한 통계적 점수 계산을 넘어 코드 커버리지 행렬의 전체 정보를 활용하는 새로운 표현 학습(Representation Learning) 방식을 제시하고, 테스트 케이스 정렬 알고리즘과 데이터 의존성 통합을 통해 딥러닝 모델의 FL 성능을 극대화함.